Lab Companion半導(dǎo)體芯片測(cè)試設(shè)備
HAST 帶電高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)設(shè)備
Highly Accelerated Temp&Humiditu
Stress Test
uHAST 不帶電加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)設(shè)備
Unbiased HAST
HTSL/Baking 高溫存儲(chǔ)/烘烤設(shè)備
High TemperatureStorage Life
LTSL 低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)設(shè)備
Low Temperature Storage Life
TC 溫度循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
Temperature Cycling
TS 溫度沖擊試驗(yàn)設(shè)備
Thermal Shock
THB/85/85 高溫高濕偏壓試驗(yàn)/帶電雙85設(shè)備
Temperature Humidity Blas
TH(THS/THC)溫濕度(存儲(chǔ)循環(huán))試驗(yàn)設(shè)備
Temperature Humidity
